测量原理:
本仪器测量原理为直角坐标测量法,即通过X轴、Z1轴传感器,测绘出被测零件的表面轮廓的坐标点,通过电器组件,将传感器所测量的坐标点数据传输到上位PC机,软件对所采集的原始坐标数据进行数学运算处理,标注所需的工程测量项目。
此款仪器已可同国外进口仪器性能相比,各方面指标已达到国际标准,仪器符合国家标准GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及国际标准ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求
设备参数:
测量范围 | X方向驱动器 | 140mm | |
Z1 | 轮廓度量程 | 60mm | |
Z1 | 粗糙度量程 | ±1500μm | |
Z1 | 分辨率0.02微米 | ||
Z轴高度(立柱) | 400mm | ||
可检测最小内孔 | 5mm | ||
轮廓技术参数 | 线性精度 | ±(1.2+|0.12H|)μm | |
圆弧 | ±(1.2+R/12)μm | ||
角度 | ±1′ | ||
直线度 | 0.7μm/100mm | ||
粗糙度技术参数 | 线性精度 | ≤±5% | |
残值噪声 | ≤0.005μm | ||
重复稳定性 | 试值3% | ||
截止波长 | 0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm | ||
评定长度 | λcX1、2、3、4、5 | ||
传感器 | 芯片类型 | 美国 | |
分辨率 | 0.02μm | ||
产地 | 美国 | ||
爬坡角度 | 上升77度 下降87度 | ||
粗糙度评定参数 | Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2 | ||
测量速度 | 0.05-20mm/s | ||
Z轴速度 | 0.05-20mm/s |